Приставка зеркального отражения ПЗО80

Приставка со «скользящим» углом падения луча 80° применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.

Для очень тонких покрытий спектральные измерения методом «скользящего» угла являются более чувствительными, чем измерения при углах падения, близких к нормальному. Это связано с увеличением длины пути луча через покрытие при увеличении угла падения.

Приставка устанавливается в кюветное отделение спектрометра ФСМ. Образец размещается на верхней наружной стороне приставки исследуемой поверхностью вниз. Система зеркал приставки направляет пучок ИК-излучения на поверхность образца и передает отраженные этой поверхностью лучи на детектор спектрометра. Программа FSpec обрабатывает результаты. Зеркало сравнения поставляется в комплекте для базового измерения и настройки приставки.

 

Особенности и преимущества:

• измерение отраженного излучения методом «скользящего угла»,
• фиксированный угол падения 80°,
• простота установки в прибор,
• отсутствие пробоподготовки,
• удобное расположение образца.